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產品編碼：001
計量單位：臺
折 扣 率： 0
最后更新：2014-09-16
關 注 度：3669
生產企業：朗鐸投資控股（北京）有限公司
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產品詳細介紹品牌： 賽默飛世爾 型號：
制造商：美國賽默飛世爾 經銷商：朗鐸投資控股（北京）有限公司
免費咨詢電話：800-8900-558
XPS的主要應用
識別污點或變色
清潔度的表征
分析粉末和碎片的組成份
識別和量化表面變化前后聚合物的功能參數
測量硬盤上的潤滑劑厚度
深度分析
測量樣品的氧化層厚度
XPS技術性能
信號檢測
光電子
元素檢測
Li-U及其化合價信息
檢測限
0.01 – 1% （原子百分比）
深度分辨率
20 - 200 Å（深度分析模式）
10 - 100 Å (表面分析）
成像/繪圖
是
橫向分辨率
10 µm
XPS分析的理想用途
有機材料、無機材料、污點、殘留物的表面分析
測量表面成分及化學狀態信息
薄膜成份的深度剖析
硅氧氮化物厚度及成分分析
薄膜氧化物厚度測量（SiO2, Al2O3 等）
XPS分析的相關領域
航空航天
汽車
生物醫學
半導體
數據存儲
國防
顯示器
電子
工業產品
照明
制藥
光電子
聚合物
半導體
太陽能光伏發電
電信
XPS分析的優勢
表面元素的化學狀態識別
除H和He外，可檢測其他所有元素
定量分析
適用于多種材料，包括絕緣樣品（紙，塑料、玻璃等）
可用于深度分析
氧化物厚度測量
XPS分析的局限性
檢測限通常在~ 0.01 %
束斑較大，約為~10 µm
有限的具體有機物信息
需要超高真空（UHV）環境
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| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2014-09-05
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